投资者提问：
公司针对新型半导体的检测需求和设备国产化趋势，推出了第三代半导体2-8寸晶圆的显微测试系统，其采用Raman和荧光成像原理，以自动聚焦和软件判定为依托，对第三代半导体的应力，载流子浓度、杂质、翘曲度、反射率、膜厚等各种指标进行光学检测，目前已有客户在进行测试试用 请问这个和光刻机运用多重曝光技术来提升芯片良品率有相关吗？
董秘回答(必创科技SZ300667)：
您好！目前公司第三代半导体2-8寸晶圆的显微测试系统更多的是集中在前端的晶圆测试，得到的测试结果可以反馈给晶圆生产制造商，进而改进相关工艺，提升前端和后端良品率。感谢您的关注，谢谢！
免责声明：本信息由新浪财经从公开信息中摘录，不构成任何投资建议；新浪财经不保证数据的准确性，内容仅供参考。
股市回暖，抄底炒股先开户！智能定投、条件单、个股雷达……送给你>>
海量资讯、精准解读，尽在新浪财经APP
VIP课程推荐
加载中...
APP专享直播
热门推荐
收起
新浪财经公众号
24小时滚动播报最新的财经资讯和视频，更多粉丝福利扫描二维码关注（sinafinance）
