华兴源创申请硬件缺陷检测专利,提高硬件缺陷的检测效率和准确度

华兴源创申请硬件缺陷检测专利,提高硬件缺陷的检测效率和准确度
2023年12月13日 20:05 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2023年12月13日消息,据国家知识产权局公告,苏州华兴源创科技股份有限公司申请一项名为“硬件缺陷的检测方法、装置及设备“,公开号CN117218070A,申请日期为2023年8月。

专利摘要显示,本发明揭示了一种硬件缺陷的检测方法、装置及设备,方法基于种子生长算法检测缺陷区域,其中,种子点的生成步骤包括:生成过硬件灰度图像的若干线条,线条对应硬件灰度图像上的像素带;对像素带进行相邻像素之间的灰度值的求导;将导数值大于导数阈值的像素点选定为种子点。该方法一方面精准生成缺陷区域,使得缺陷区域判定的效率更高,另一方面生成的效果好,不容易遗漏或将非缺陷区域识别为缺陷区域,所以该检测方法及装置既能提高硬件缺陷的检测效率、又能提高检测的准确度。

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