苏州晶湛半导体取得半导体结构及其形成方法专利,提高半导体外延层的性能

苏州晶湛半导体取得半导体结构及其形成方法专利,提高半导体外延层的性能
2024年08月29日 04:15 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 8 月 28 日消息,天眼查知识产权信息显示,苏州晶湛半导体有限公司取得一项名为“半导体结构及其形成方法“,授权公告号 CN113169227B,申请日期为 2018 年 9 月。

专利摘要显示,提供了一种半导体结构及其形成方法。该半导体结构包括:衬底和设置在衬底上的外延层。外延层的至少一部分掺杂有金属原子,靠近衬底的外延层的下表面的金属原子的掺杂浓度高于 1×1017atoms/cm3。

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