华虹半导体(无锡)申请接触孔制作方法专利,提升接触孔性能

华虹半导体(无锡)申请接触孔制作方法专利,提升接触孔性能
2024年09月03日 13:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 9 月 3 日消息,天眼查知识产权信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司申请一项名为“接触孔的制作方法“,公开号 CN202410691903.2,申请日期为 2024 年 5 月。

专利摘要显示,本申请公开了一种接触孔的制作方法,包括:提供一衬底,衬底中形成有沟槽,沟槽和衬底表面形成有绝缘层;在沟槽之间的绝缘层和衬底中形成底部通孔,底部通孔的深度小于沟槽的深度;在沟槽和底部通孔中填充金属层,底部通孔中的金属层形成底部接触孔;在绝缘层和金属层上方形成至少一层层间介电层,每层层间介电层中形成有金属引出层,每层金属引出层的底部与下一层金属引出层的顶部接触,每层金属引出层的顶部与上一层金属引出层的底部接触,最底层的金属引出层的底部与所述底部接触孔的顶部接触,每层金属引出层的宽度大于底部接触孔的宽度,至少一层金属引出层和底部接触孔的高度之和为 H,底部接触孔的宽度为 W1,H/W1>5。

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