佰维存储取得 DRAM 的存储单元测试相关专利,能够覆盖测试盲区并检测出较难发现的芯片缺陷

佰维存储取得 DRAM 的存储单元测试相关专利,能够覆盖测试盲区并检测出较难发现的芯片缺陷
2024年09月05日 07:25 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 9 月 4 日消息,天眼查知识产权信息显示,深圳佰维存储科技股份有限公司取得一项名为“DRAM 的存储单元测试方法、系统、设备及存储介质“,授权公告号 CN202410621815.5,申请日期为 2024 年 5 月。

专利摘要显示,本发明提供一种 DRAM 的存储单元测试方法、系统、设备及存储介质,该方法包括:将预设测试数据写入待测试的 DRAM 的所有存储单元,存储单元根据预设突发长度组成存储单元组;创建访问数组,访问存储单元组,获得存储单元组的行列地址;根据行列地址读取对应存储单元组的当前测试数据,并与存储单元组的预设测试数据比较,若比较结果一致,则将存储单元组判定为已访问;根据行列地址获取对角线上的四个相邻行列地址,并根据相邻行列地址判断对应的相邻存储单元组是否被访问,若全部相邻存储单元组均被访问,则判定测试通过。本发明能够覆盖测试盲区并检测出较难发现的芯片缺陷,提高故障覆盖率,提升产品良性。

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