上海喆塔取得一种基于不良 Map 图的缺陷模式分析方法专利，能够快速且准确实现找到复杂缺陷种类_

本文源自:金融界

金融界 2024 年 9 月 8 日消息，天眼查知识产权信息显示，上海喆塔信息科技有限公司取得一项名为“一种基于不良 Map 图的缺陷模式分析方法“，授权公告号 CN112184691B ，申请日期为 2020 年 10 月。

专利摘要显示，此发明公开了一种基于不良 Map 图的缺陷模式分析方法，涉及智能制造与人工智能技术领域。此发明对显示面板的不良归类分析，构造了一种基于 DBSCAN 密度聚类的方法，将不良信息快速定位到不良类型中，解决了现有方式存在效率较低、易遗漏某些因素、难于找到真正缺陷模式多种类的技术问题，能够快速且准确实现找到复杂缺陷种类的技术效果。同时解决了现有划分方法速度慢精度低不便于大数据分析的问题，此发明中的方法更适合大数据计算和自动化分析，精度高，速度快，是一种高效准确的自动缺陷分类方法。