上海华力微申请 ESD 结构及半导体器件专利,提高芯片面积利用率

上海华力微申请 ESD 结构及半导体器件专利,提高芯片面积利用率
2024年09月17日 15:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 9 月 17 日消息,天眼查知识产权信息显示,上海华力微电子有限公司申请一项名为“ESD 结构及半导体器件“,公开号 CN202410867329.1,申请日期为 2024 年 6 月。

专利摘要显示,本发明公开了一种 ESD 结构及半导体器件,属于芯片静电保护技术领域,该 ESD 结构,包括在衬底上间隔布置的第一 NMOS 管和第二 NMOS 管,第一 NMOS 管包括第一中压 P 阱,且第一中压 P 阱上从左至右依次布置有第一 N 阱和第一 P 阱引出区,第二 NMOS 管包括第二中压 P 阱,第二中压 P 阱上从左至右依次布置有第二 P 阱引出区和第三 N 阱,第一 P 阱引出区和第二 P 阱引出区之间通过第二金属连接线互连,第一 N 阱和第三 N 阱分别接出第一金属连接线、第四金属连接线作为连接端口。通过将两个 NMOS 管的 P 阱引出区相连,构成寄生三极管,实现双向泄放,还能够增加发射极和集电极之间的距离来增加保持电压,提高芯片面积利用率。

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