雪迪龙申请基于腔衰荡光谱的直接吸收光谱有效光程测量专利,以高精度测量长光程气体池的有效光程

雪迪龙申请基于腔衰荡光谱的直接吸收光谱有效光程测量专利,以高精度测量长光程气体池的有效光程
2024年09月19日 04:55 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年9月18日消息,天眼查知识产权信息显示,北京雪迪龙科技股份有限公司申请一项名为“一种基于腔衰荡光谱的直接吸收光谱有效光程测量方法“,公开号CN202411124112.8,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,本申请提供了一种基于腔衰荡光谱对直接吸收光谱长光程气体池的有效光程进行测量的方法,包括:确定所需要的气体分子、吸收谱线、激光器;调整直接吸收光谱长光程气体池和腔衰荡光谱衰荡腔的量程,使两个量程具有重合区域;配置气体,测量气体分子吸收光谱的信噪比;连通长光程气体池和衰荡腔,通入气体,测量长光程气体池内和衰荡腔内的气体的温度差、压力差;获取腔衰荡光谱,并获取腔衰荡光谱的气体分子吸收系数积分ACRDS;获取直接吸收光谱,并获取直接吸收光谱的气体分子吸收率积分ADAS;计算得到长光程气体池的有效光程。通过本申请的方法,可以以非常高的精度测量长光程气体池的有效光程,其误差最好可以降低在0.03%左右。

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