晶合集成申请一种半导体结构及其制作方法、半导体器件专利,可提高半导体结构的电性性能

晶合集成申请一种半导体结构及其制作方法、半导体器件专利,可提高半导体结构的电性性能
2024年09月19日 04:55 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 9 月 18 日消息,天眼查知识产权信息显示,合肥晶合集成电路股份有限公司申请一项名为“一种半导体结构及其制作方法、半导体器件“,公开号 CN202411110508.7,申请日期为 2024 年 8 月。

专利摘要显示,本发明公开了一种半导体结构及其制作方法、半导体器件,属于半导体技术领域,所述半导体结构包括:衬底;浅沟槽隔离结构,设置在所述衬底中;深阱区,设置在所述衬底中,所述深阱区包括第一子深阱和第二子深阱,所述第一子深阱和所述第二子深阱设置在所述浅沟槽隔离结构两侧;第一阱区,设置在所述第一子深阱中,所述第一阱区的深度小于所述深阱区的深度,且所述第一阱区延伸至所述浅沟槽隔离结构底部;以及第二阱区,设置在所述第二子深阱中,所述第二阱区的深度小于所述深阱区的深度,且所述第二阱区延伸至所述浅沟槽隔离结构底部。通过本发明提供的一种半导体结构及其制作方法、半导体器件,可提高半导体结构的电性性能。

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