本文源自:金融界
金融界2024年9月26日消息，国家知识产权局信息显示，中国电力科学研究院有限公司武汉分院申请一项名为“一种考虑多因素老化的电缆绝缘剩余寿命估计方法及系统”的专利，公开号CN 118688580 A，申请日期为2024年8月。
专利摘要显示，本说明书提供了一种考虑多因素老化的电缆绝缘剩余寿命估计方法及系统，涉及电缆测试技术领域。该方法包括分别确定未老化电缆的多因素测试数据和在运电缆的多因素测试数据；根据未老化电缆的多因素测试数据和在运电缆的多因素测试数据，确定各重老化因素对在运电缆老化的影响权重；根据未老化电缆的多因素测试数据和在运电缆的多因素测试数据，确定在运电缆在各老化因素影响下的剩余寿命；根据各重老化因素对在运电缆的影响权重，对在运电缆在各老化因素影响下的剩余寿命进行归一化处理，获得在运电缆的估计剩余寿命。其能够明确不同老化因素对当前在运电缆绝缘影响作用的大小，以进一步准确计算在运电缆的剩余寿命。
