无锡盛景微电子申请高频脉冲测试方法专利,有效分析爆破过程中出现的失效现象

无锡盛景微电子申请高频脉冲测试方法专利,有效分析爆破过程中出现的失效现象
2024年10月21日 13:20 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年10月21日消息,国家知识产权局信息显示,无锡盛景微电子股份有限公司申请一项名为“一种高频脉冲测试方法”的专利,公开号CN 118758121 A,申请日期为2024年6月。

专利摘要显示,本发明提供一种高频脉冲测试方法,通过模拟爆破中产生的电磁辐射脉冲影响,有效分析爆破过程中出现的失效现象;包括:设置ESD脉冲发生器为接触放电放电电压为负极性;通过测试模块对待测电子延期模块进行起爆指令操作;随后断开待测电子延期模块与测试模块之间的连接,随后通过ESD脉冲发生器对与待测电子延期模块连接的总线进行放电,并通过示波器记录此时待测电子延期模块上起爆电容电压;接着设置ESD脉冲发生器为接触放电,放电电压为正极性后更换不同的待测电子延期模块直至通过示波器记录此时待测电子延期模块上起爆电容电压;最后判定获得的起爆电容电压是否有异常,若异常,则待测电子延期模块失效;若均无异常,提高放电电压后重复测试。

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