本文源自:金融界
金融界2024年10月21日消息，国家知识产权局信息显示，峨眉山市晶辉硅业科技有限公司申请一项名为“一种利用X荧光快速检测硅粉杂质元素的方法”的专利，公开号CN 118758986 A，申请日期为2024年6月。
专利摘要显示，本发明公开了一种利用X荧光快速检测硅粉杂质元素的方法，属于硅粉检测技术领域，目的在于解决现有硅粉杂质元素检测结果不精准的问题。其包括以下步骤：取20g硅粉标准样品，进行二次研磨；称取5g二次研磨后的硅粉标准样品，压制成标准样片；制备三枚标准样片；将三枚标准样片依次放入X射线荧光光谱仪进行分析测定，将三枚标准样片分析测定的标准曲线进行修正拟合后，建立标准样片的基准曲线；取20g硅粉测试样品，进行二次研磨；称取5g二次研磨后的硅粉测试样品，压制成测试样片；将测试样片放入X射线荧光光谱仪中，依靠基准曲线分析测定测试样片，获取硅粉测试样品中各杂质元素的含量。本发明适用于一种利用X荧光快速检测硅粉杂质元素的方法。
