本文源自:金融界
金融界2024年10月24日消息，国家知识产权局信息显示，中科星图测控技术股份有限公司申请一项名为“一种基于天基光学测量数据处理与识别方法”的专利，公开号 CN 118797450 A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于天基光学测量数据处理与识别方法，包括以下步骤：S1，读取天基光学数据；S2，判断数据是否合理，不合理进行剔除，合理进入步骤S3；S3，对合理的数据进行数据转换；S4，进行初始轨道的确定；S5，若初始轨道确定成功，利用定轨结果与目标集中的tle进行比对识别，根据半长轴、偏心率、升交点赤经判定阈值条件，得到符合阈值条件的疑似目标；若初始轨道确定失败，将目标集中的tle进行外推反演，用指向数据与实测数据进行比对，给出赤经赤纬判定阈值条件，挑选符合阈值条件的疑似目标；S6，通过识别规则对疑似目标进 步剔除找出最接近的目标给出置信度评估，输出识别结果。本发明解决了天基观测数据量大、识别困难的问题。
