本文源自:金融界
金融界2024年10月25日消息，国家知识产权局信息显示，恒美光电股份有限公司取得一项名为“偏光膜缺陷检测系统”的专利，授权公告号CN 221860303 U，申请日期为2024年1月。
专利摘要显示，本申请涉及一种偏光膜缺陷检测系统，包括：相机组件、灯源组件、架台组件、图像处理组件、控制组件，其中：在紧邻所述直交灯源机构的上方设置灯源偏光镜组件，所述灯源偏光镜组件使所述直交灯源机构的照射光线与所述待检测偏光膜的膜面的角度为80 °～90 °。将传统设置在直交相机镜头上的偏光镜改为设置在直交灯源机构的灯源上方，可以兼顾偏光膜亮点和歪点的检出效果。
