广州增芯科技申请 MEMS 压力传感器的空腔制作方法专利,解决深硅刻蚀后晶圆翘曲对后续制作工艺的不利影响

广州增芯科技申请 MEMS 压力传感器的空腔制作方法专利,解决深硅刻蚀后晶圆翘曲对后续制作工艺的不利影响
2024年10月26日 17:40 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 10 月 26 日消息,国家知识产权局信息显示,广州增芯科技有限公司申请一项名为“MEMS 压力传感器的空腔制作方法”的专利,公开号 CN 118811768 A,申请日期为 2024 年 7 月。

专利摘要显示,本发明提供了一种 MEMS 压力传感器的空腔制作方法,包括:步骤 S1:提供一面形成有压力器件的晶圆;步骤 S2:在所述晶圆的另一面上形成有第一图案化的光阻层,在所述晶圆形成有所述压力器件的一面形成一层第一介质层;步骤 S3:提供一载板,所述载板的一面形成有第二介质层;步骤 S4:采用真空硅脂通过黏附所述第一介质层和所述第二介质层,将形成有所述第一图案化的光阻层的晶圆黏附于所述载板上;步骤 S5:对所述步骤 S4 中的晶圆进行深硅刻蚀形成与所述压力器件位置对应的空腔。解决了深硅刻蚀后晶圆翘曲对后续的制作工艺产生不利影响。

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