上海感图申请孔环缺陷检测方法专利,提高电路板缺陷检测效率

上海感图申请孔环缺陷检测方法专利,提高电路板缺陷检测效率
2024年10月28日 12:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年10月28日消息,国家知识产权局信息显示,上海感图网络科技有限公司申请一项名为“孔环缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”的专利,公开号 CN 118817692 A,申请日期为2024年7月。

专利摘要显示,本申请涉及一种孔环缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,应用在电路板缺陷检测技术领域,包括获取检测区域图像,检测区域图像包括预设的强检区域图像或指定的颗粒图像,强检区域图像或颗粒图像包括待检测的孔和/或环;识别待检测的孔和/或环的轮廓,并根据待检测的孔和/或环的轮廓截取待检测的孔和/或环对应的感兴趣图像;查找待检测的孔和/或环对应的母图轮廓,在感兴趣图像中截取与母图轮廓对应的目标区域图像;通过图像识别方法判断目标区域图像的类型,目标区域图像的类型包括孔和环;根据孔和环的判断标准判断待检测的孔和/或环是否存在缺陷,并进行异常标记。本申请具有的技术效果是:适用于孔和环的缺陷检测,提高电路板缺陷检测效率。

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