数之联申请一种元器件引脚缺陷检测方法专利,解决引脚交叉等缺陷检测难题

数之联申请一种元器件引脚缺陷检测方法专利,解决引脚交叉等缺陷检测难题
2024年10月29日 10:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年10月29日消息,国家知识产权局信息显示,成都数之联科技股份有限公司申请一项名为“一种元器件引脚缺陷检测方法、系统、设备及存储介质”的专利,公开号CN 118822975 A,申请日期为2024年6月。

专利摘要显示,本发明提供一种元器件引脚缺陷检测方法、系统、设备及存储介质,涉及元器件缺陷检测技术领域,所述方法流程为:对引脚定位框进行像素处理和轮廓提取处理,以得到引脚轮廓集合;基于引脚轮廓集合获取包绕面积和凸包面积,并且基于包绕面积和凸包面积计算形变程度;基于引脚轮廓集合获取采样长度内的区域周长,并且基于采样长度内的区域周长计算宽度值;基于引脚轮廓集合获取轮廓周长,并且基于轮廓周长和宽度值计算长度值;基于形变程度、宽度值以及长度值进行引脚缺陷检测,以得到元器件引脚缺陷检测结果。本发明基于深度学习技术、图像处理技术以及工程处理技术进行引脚缺陷检测,解决了元器件生产过程中引脚交叉、弯曲程度难以检测的问题。

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