博视智动申请基于条纹变形的缺陷检测专利,提高半导体产品的缺陷检测效率

博视智动申请基于条纹变形的缺陷检测专利,提高半导体产品的缺陷检测效率
2024年10月29日 10:40 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年10月29日消息,国家知识产权局信息显示,北京博视智动技术有限公司申请一项名为“基于条纹变形的缺陷检测方法、装置、设备和 存储介质”的专利,公开号CN 118822955 A,申请日期为2024年6月。

专利摘要显示,本公开提供了一种基于条纹变形的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质,该方法包括:获取待检测产品的条纹图像;由条纹图像中提取出缺陷的变形条纹图像;对变形条纹图像进行频域滤波,得到缺陷提取图像;基于缺陷提取图像确定待检测产品的缺陷检测结果。通过本公开的方法仅需要使用一张待检测产品的条纹图像即可以确定出待检测产品的缺陷检测结果,从而提高了半导体产品的缺陷检测效率。

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