本文源自:金融界
金融界2024年10月29日消息，国家知识产权局信息显示，合肥康芯威存储技术有限公司申请一项名为“一种存储设备的测试方法及测试系统”的专利，公开号CN 118824346 A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本发明提供了一种存储设备的测试方法及测试系统，测试方法包括：对多个存储设备进行分组，获取多组待测件；根据存储设备的极限错误比特数，设置错误比特数据的比较阈值；在多个温度环境下，对存储设备写入数据并读出，当存储设备的错误比特数达到比较阈值，获取存储设备在当前温度环境的数据保留时间；根据多个数据保留时间之间的比值，获取多个温度加速参数；根据温度加速参数，获取存储设备的闪存活化能数据；根据存储设备的磨损程度、温度环境、闪存活化能数据和温度加速参数，建立参数对照表；在对存储设备进行老化测试时，根据参数对照表，以高温环境模拟低温环境下存储设备的使用情况。本发明能提升闪存老化测试的效率和准确率。
