本文源自:金融界
金融界2024年10月29日消息，国家知识产权局信息显示，慧荣科技股份有限公司申请一项名为“存储器测试系统及存储器测试方法”的专利，公开号CN 118824343 A，申请日期为2023年6月。
专利摘要显示，一种存储器测试方法，包含：通过测试装置，自控制器接收第一测试路径文件；根据第一测试路径文件，读取测试装置中的第一测试设定文件；根据第一测试设定文件，对测试装置的当前耦接存储器执行第一测试程序，以在当前耦接存储器中找出一或多个初始损坏区块；在第一测试程序完成后，于当前耦接存储器中写入第一测试纪录文件；以及在对当前耦接存储器进行第二测试程序前，判断当前耦接存储器中是否具备第一测试纪录文件。据此，通过在存储器中写入测试纪录文件，测试装置即可确认存储器是否已执行过相关的测试程序，进而可自动地执行不同的测试程序。
