本文源自:金融界
金融界2024年10月30日消息，国家知识产权局信息显示，展讯半导体（南京）有限公司申请一项名为“用于相位检测自动对焦的相位差校正方法、系统及设备”的专利，公开号CN 118828197 A，申请日期为2024年5月。
专利摘要显示，本公开提供了一种用于相位检测自动对焦的相位差校正方法、系统及设备，相位差校正方法包括：获取当前场景下准焦位置的预设相位差以及相位检测自动对焦的准焦位置的原始相位差；获取预设相位差与原始相位差的差值；响应于差值大于预设阈值，根据差值对原始相位差进行校正。本公开通过获取当前场景下准焦位置的预设相位差与相位检测自动对焦的准焦位置的原始相位差的差值，响应于差值大于预设阈值，根据差值对原始相位差进行校正，实现了利用准焦位置的预设相位差对原始相位差进行校正，提高了相位差的准确度，进而提高了相位对焦的准确度和清晰度。
