华北电力科学研究院申请一种 IGBT 短路电流下降过程的分析方法及装置专利，减少测量装置数量，更加经济、安全_

本文源自:金融界

金融界 2024 年 10 月 31 日消息，国家知识产权局信息显示，华北电力科学研究院有限责任公司申请一项名为“一种 IGBT 短路电流下降过程的分析方法及装置”的专利，公开号 CN 118837702 A，申请日期为 2024 年 7 月。

专利摘要显示，本发明提供一种 IGBT 短路电流下降过程的分析方法及装置。该基于栅极信号的 IGBT 短路电流下降过程的分析方法包括：根据栅极电源电压、栅极关断电阻、栅极回路寄生电感、当前下降时刻和栅极输入电容确定芯片栅极电压；根据所述芯片栅极电压和阈值电压确定集电极电流；根据所述集电极电流、直流电压、IGBT 工作回路寄生电感和下降时间段确定集射极下降数据以根据所述集射极降数据进行短路电流下降分析。本发明减少了测量装置数量，更加经济、安全。