本文源自:金融界
金融界 2024 年 10 月 31 日消息，国家知识产权局信息显示，上海御渡半导体科技有限公司申请一项名为“一种集成电路自动测试方法及系统”的专利，公开号 CN 118837719 A，申请日期为 2024 年 7 月。
专利摘要显示，本发明揭示了一种集成电路自动测试方法及系统，通过对Pin进行分类，对不同种类的Pin进行资源分配以提高整体的测试效率；动态调整每个通道的发送资源和存储资源，确保资源根据Pin的功能和需求合理分配，避免资源浪费；资源分配文件可以根据不同的Pin类型和需求进行定制，使得测试方法具有很好的灵活性和可扩展性，适应不同类型和规模的集成电路测试；同时，本发明提供的集成电路自动测试方法及系统通过针对不同功能的Pin进行分类和资源分配，可以确保所有类型的Pin都得到适当的测试，提高测试覆盖率。
