无锡邑文微电子申请一种超薄金属层的 ICP 刻蚀方法及其应用专利,改善刻蚀速率均匀性差的问题

无锡邑文微电子申请一种超薄金属层的 ICP 刻蚀方法及其应用专利,改善刻蚀速率均匀性差的问题
2024年11月04日 14:00 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 11 月 4 日消息,国家知识产权局信息显示,无锡邑文微电子科技股份有限公司申请一项名为“一种超薄金属层的 ICP 刻蚀方法及其应用”的专利,公开号 CN 118888488 A,申请日期为 2024 年 9 月。

专利摘要显示,本发明属于器件加工制造领域,本发明提供了一种超薄金属层的 ICP 刻蚀方法及其应用,所述 ICP 刻蚀方法包括先进行第一 ICP 刻蚀至少去除沟槽外部的超薄金属层,形成去除区域,再于去除区域通过 ICP 沉积聚合物层对去除区域进行保护,接着进行第二 ICP 刻蚀去除沟槽内部的超薄金属层,最后通过 ICP 清洗,去除余下的聚合物层;本发明通过加入聚合物层的沉积步骤,令聚合物在沟槽外部起到保护效果,使得沟槽外部与内部金属的刻蚀速率的差异得到补偿,改善了由于深度不同引起的刻蚀速率均匀性差的问题。该方案可以在传统 ICP 设备上使用,可以绕过 ALE 技术的使用限制,对设备配置要求不高,有效节约成本并提高刻蚀速率。

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