杭州积海半导体申请浮栅结构的制备方法等专利,有效改善空洞问题提高器件可靠性

杭州积海半导体申请浮栅结构的制备方法等专利,有效改善空洞问题提高器件可靠性
2024年11月04日 14:00 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月4日消息,国家知识产权局信息显示,杭州积海半导体有限公司申请一项名为“浮栅结构的制备方法、浮栅结构及闪存器件”的专利,公开号CN 118888435 A,申请日期为2024年9月。

专利摘要显示,本发明提供一种浮栅结构的制备方法、浮栅结构及闪存器件,具体涉及半导体技术领域。所述制备方法包括:提供衬底,所述衬底上形成有至少两个隔离结构,相邻的两个所述隔离结构之间形成上窄下宽的梯形沟槽;在所述梯形沟槽的底部形成隧穿氧化层;在所述梯形沟槽的侧壁上形成多晶硅垫层,以使所述梯形沟槽转变成矩形沟槽;向所述矩形沟槽内填充多晶硅,形成浮栅。该方法可以有效改善浮栅填充过程中的空洞问题,提高器件的可靠性。

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