本文源自:金融界
金融界 2024 年 11 月 6 日消息，国家知识产权局信息显示，南京芯视元电子有限公司取得一项名为“一种芯片测量装置”的专利，授权公告号 CN 221946296 U，申请日期为 2024 年 2 月。
专利摘要显示，本申请提供一种芯片测量装置，涉及半导体测试技术领域，包括移动平台、图像采集模块、光路模块和上位机，移动平台上设置待测样片，待测样片包括位于移动平台上的芯片和位于芯片上的 ITO 玻璃，芯片和 ITO 玻璃错位；芯片上与 ITO 玻璃错位的位置设置探针卡模块，探针卡模块连接驱动模块，驱动模块通过探针卡模块为待测样片的显示提供驱动信号，通过探针卡模块显示待测样片状态；图像采集模块采集待测样片图像，检测待测样片显示效果；光路模块朝向待测样片出射光线，接收待测样片反射回的反射光线，检测待测样片光学指标；上位机分别和驱动模块、探针卡模块、图像采集模块和光路模块连接。Bonding 工艺前完成电学和光学特性测试。
