广东阿达半导体申请邦头力常数测量方法及测量装置专利,能够准确测量邦头力常数在运动行程区间的特征数值

广东阿达半导体申请邦头力常数测量方法及测量装置专利,能够准确测量邦头力常数在运动行程区间的特征数值
2024年11月11日 09:22 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月11日消息,国家知识产权局信息显示,广东阿达半导体设备股份有限公司申请一项名为“一种邦头力常数测量方法及测量装置”的专利,公开号CN 118913661 A,申请日期为2024年10月。

专利摘要显示,本发明提供一种邦头力常数测量方法及测量装置,其中,测量方法包括:控制升降电机,将高精度压力传感器运动到整个待测行程内选取的多个待测位置,记录邦头机构的位置P(k);输入电流I(t),使瓷嘴压在高精度压力传感器上至压力值产生变化,记录输入电流I(t)与高精度压力传感器的读数F(t);计算位置P(k)的力常数Kf(k),得到在不同位置的力常数Kf(k)数据集后,将力常数Kf(k)数据集进行线性拟合本发明提供的邦头力常数测量方法及测量装置能够准确地测量邦头力常数在运动行程区间的特征数值,从而准确的判断邦头力常数是否符合设计使用需求,可运用于邦头机构的批量生产质量管控、性能评估和优化。

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