上海美维科技申请测试区域中关注物质测量分析专利,能准确得到关注物质的种类分布等

上海美维科技申请测试区域中关注物质测量分析专利,能准确得到关注物质的种类分布等
2024年11月11日 11:01 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月11日消息,国家知识产权局信息显示,上海美维科技有限公司申请一项名为“测试区域中关注物质测量分析方法、装置、产品及终端”的专利,公开号 CN 118914597 A,申请日期为2024年7月。

专利摘要显示,本申请提供一种测试区域中关注物质测量分析方法、装置、产品及终端,对获取到的待测试区域图像进行裁剪识别,以提取待测试封装基板的目标分析区域;对所述目标分析区域进行图像预处理,并基于预设的灰度阈值,提取待测试封装基板的目标关注区域,能够选用特定的颜色清楚和直观的标识出关注的区域或物质,便于量化分析;提取所述目标关注区域在所述目标分析区域中的测量分析数据表并输出,减少了人为主观判断误差,可以准确的得到测试区域中关注物质的种类分布、尺寸及面积占比,节省时间,提高效率,实现了测量方法的统一化、标准化,保证了测量分析结果具有可比性。

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