新存科技申请存储器测试系统和测试方法专利,监控存储单元干扰时间

新存科技申请存储器测试系统和测试方法专利,监控存储单元干扰时间
2024年11月11日 19:20 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月11日消息,国家知识产权局信息显示,新存科技(武汉)有限责任公司申请一项名为“存储器的测试系统和测试方法”的专利,公开号CN 118918939 A,申请日期为2024年7月。

专利摘要显示,本申请提供了一种存储器的测试系统和测试方法,测试系统包括测试装置和处理器。测试装置通过设置第二电压检测模块来检测第二测试电压,从而来监控第二存储单元受到第一存储单元干扰所用的时间,进而可以得到第一存储单元的操作时间。并通过设置第一电压检测模块来检测第一地址线一端的第一测试电压,从而处理器可以根据第一地址线和第三地址线的电压、第一测试电压、压差产生器的阻值和第一存储单元的操作时间计算出第一存储单元在操作过程中对第二存储单元产生的干扰能量。

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