上海积塔半导体申请光罩、光刻方法及半导体结构专利,有利于降低微负载效应

上海积塔半导体申请光罩、光刻方法及半导体结构专利,有利于降低微负载效应
2024年11月14日 14:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 11 月 14 日消息,国家知识产权局信息显示,上海积塔半导体有限公司申请一项名为“光罩、光刻方法及半导体结构”的专利,公开号 CN 118938590 A,申请日期为 2024 年 7 月。

专利摘要显示,本申请提供了一种光罩、光刻方法及半导体结构。该光罩应用于目标晶圆的图案化工艺,包括遮光图案,遮光图案至少限定出光罩的第一透光区和第二透光区;其中,第一透光区与第二透光区间隔设置,且第一透光区的透光强度与相邻的第二透光区的透光强度不同。该光罩有利于降低微负载效应,提升目标图案的尺寸一致性。

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