北京富光联创科技取得芯片测试装置专利，防止在对芯片测试加工时芯片发生位移_

本文源自:金融界

金融界2024年11月14日消息，国家知识产权局信息显示，北京富光联创科技有限公司取得一项名为“一种芯片测试装置”的专利，授权公告号 CN 221993589 U ，申请日期为2024年1月。

专利摘要显示，本实用新型公开了一种芯片测试装置，属于芯片测试技术领域，针对了对芯片测试时易出现位移以及芯片放置以及拿取不便的问题，包括工作台，还包括一框架，框架固定于工作台顶端侧壁，框架一侧侧壁固定有测试器本体，工作台一侧侧壁固定有两个呈对称分布的承载架，框架位于承载架正上方，承载架一侧设置有定位组件；本实用新型通过定位组件的设置，能够满足对不同种测试工作前的定位工作需求，从而防止在对芯片测试加工时芯片发生位移，确保芯片处于相对稳定的状态下进行测试加工，而且能够满足于对不同规格的芯片测试加工需求，适用范围较广，结构简单可靠性高。