捷捷半导体取得晶闸管电流冲击测试装置及系统专利,解决现有晶闸管冲击电流测试设备的测试单一问题

捷捷半导体取得晶闸管电流冲击测试装置及系统专利,解决现有晶闸管冲击电流测试设备的测试单一问题
2024年11月14日 17:50 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月14日消息,国家知识产权局信息显示,捷捷半导体有限公司取得一项名为“一种晶闸管电流冲击测试装置及系统”的专利,授权公告号CN 221993574 U,申请日期为2023年12月。

专利摘要显示,本实用新型提供了一种晶闸管电流冲击测试装置及系统,涉及半导体器件测试技术领域,其中,晶闸管电流冲击测试系统包括:计时单元、供电电源、电压调节单元、电流调节单元、电压检测单元以及开关单元,被测组件通过开关单元与供电电源、电流调节单元构成电流回路;电压检测单元与电流调节单元并联;电压调节单元与被测组件并联,以调整被测组件的导通角;电压检测单元,以依据被测组件的导通角调整电压检测单元的基准电压;计时单元与被测组件并联,并通过开关单元在被测组件的电压超过基准电压时暂停计时单元,并关断电流检测回路;解决了现有的晶闸管冲击电流测试设备单一进行单脉冲测试或一定时间间隔的多脉冲测试的问题。

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