本文源自:金融界
金融界2024年11月15日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市金胜电子科技有限公司申请一项名为“一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法”的专利，公开号CN 118942527 A，申请日期为2024年8月。
专利摘要显示，本发明提供一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法，包括：K1开卡测试、K2开卡测试、K3开卡测试和RDT可靠性测试智能切换到USB桥接芯片和USB接口连接到测试电脑，BIT老化测试智能切换到PCIe信号接口连接到测试电脑，同时通过服务器统一下发测试指令，测试电脑调用对应测试脚本，服务器全程实时监测并收集测试数据，能够统计和分析生成量产测试报告，标识和追踪测试失败的固态硬盘的位置。本发明的有益效果：能够在一个M2固态硬盘测试座中完成固态硬盘的五站式分立测试，大幅度提高了固态硬盘量产测试效率。
