青芯半导体科技(上海)有限公司申请用于测试流水线存储器读取时间的专利,可实现不同类型多级流水线输出的存储器读取时间的测试

青芯半导体科技(上海)有限公司申请用于测试流水线存储器读取时间的专利,可实现不同类型多级流水线输出的存储器读取时间的测试
2024年11月15日 09:06 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月15日消息,国家知识产权局信息显示,青芯半导体科技(上海)有限公司申请一项名为“一种用于测试流水线存储器读取时间的电路、芯片及方法”的专利,公开号 CN 118942525 A,申请日期为 2024 年 7 月。

专利摘要显示,本发明公开一种用于测试流水线存储器读取时间的电路,其包括判断模块及输入模块,其中判断模块用于判断流水线存储器的类型,以及输入模块连接至流水线存储器的被测地址位,且包括多个选择器,用于基于流水线存储器的类型、测试阶段确定流水线存储器的待测试位的输入。该电路可根据流水线存储器的类型确定测试输入信号,以实现不同类型多级流水线输出的存储器的读取时间的测试,同时,其还可以用于测试多级流水线输出的三态寻址存储器的搜索时间。

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