上海新微申请一种非制冷红外探测器薄膜结构及其制造方法专利,显著降低氧化钒层与金属电极导通问题的发生

上海新微申请一种非制冷红外探测器薄膜结构及其制造方法专利,显著降低氧化钒层与金属电极导通问题的发生
2024年11月15日 10:16 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月15日消息,国家知识产权局信息显示,上海新微技术研发中心有限公司申请一项名为“一种非制冷红外探测器薄膜结构及其制造方法”的专利,公开号 CN 118943211 A,申请日期为2024年7月。

专利摘要显示,本发明提供的一种非制冷红外探测器薄膜结构,包括已经完成下电极图形化的非制冷红外探测器晶圆,所述下电极的两端形成有台阶;所述下电极上部依次沉积有高温氮化硅层以及低温氮化硅层;所述低温氮化硅层以及所述高温氮化硅层上形成有通孔,所述低温氮化硅层以及所述通孔内沉积有氧化钒层。本发明通过上述的结构,可以显著的降低氧化钒层与金属电极导通问题的发生。本发明还提供了一种非制冷红外探测器薄膜结构的制造方法,可以用于制造非制冷红外探测器薄膜结构。

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