福建晶旭半导体申请氧化镓压电衬底及其制备方法专利,能够制备具有高精度的氧化镓压电薄膜层的压电衬底

福建晶旭半导体申请氧化镓压电衬底及其制备方法专利,能够制备具有高精度的氧化镓压电薄膜层的压电衬底
2024年11月15日 13:15 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月15日消息,国家知识产权局信息显示,福建晶旭半导体科技有限公司申请一项名为“一种氧化镓压电衬底及其制备方法”的专利,公开号CN 118944625 A,申请日期为2024年7月。

专利摘要显示,本发明公开了一种氧化镓压电衬底及其制备方法,所述制备方法包括以下步骤:(1)提供源衬底,在所述源衬底上制备结晶层;(2)在所述结晶层上制备ε‑Ga2O3压电薄膜层;(3)在所述ε‑Ga2O3压电薄膜层上制备键合层;(4)提供转移衬底,通过键合层将ε‑Ga2O3压电薄膜层与转移衬底键合;(5)对源衬底进行机械减薄并刻蚀,暴露出结晶层;(6)去除结晶层,暴露出ε‑Ga2O3压电薄膜层,得到氧化镓压电衬底。本发明能够制备具有高精度的氧化镓压电薄膜层的压电衬底。

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