北一半导体申请一种 IGBT 器件及其制作方法专利,大幅提升器件开关速度

北一半导体申请一种 IGBT 器件及其制作方法专利,大幅提升器件开关速度
2024年11月22日 13:15 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 11 月 22 日消息,国家知识产权局信息显示,北一半导体科技(广东)有限公司申请一项名为“一种 IGBT 器件及其制作方法”的专利,公开号 CN 118983335 A,申请日期为 2024 年 8 月。

专利摘要显示,本发明提供了一种 IGBT 器件及其制作方法,涉及半导体芯片制造技术领域;该器件包括沟槽,沟槽开设在 IGBT 器件内,沟槽内壁设置有器件栅极氧化层,器件栅极氧化层上设置有栅极,栅极包括由外到内依次设置的底层多晶硅栅极、金属栅极与顶层多晶硅栅极,底层多晶硅栅极设置在器件栅极氧化层远离沟槽内壁的一侧。在器件栅极氧化层远离沟槽内壁的一侧依次设置底层多晶硅栅极、金属栅极与顶层多晶硅栅极,三层栅极结构,可以大幅降低栅极电阻,从原来的 10‑15R/口,降低至 1R/口以下,接近金属方阻,栅极电压通过沟槽内的中间的金属栅极传导至每一个元胞,大幅提升了器件对栅极电压的响应,进而提升了器件的开关速度,提升了 di/dt 能力。

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