上海芯哲取得一种 X-RAY 设备的多外形检验治具专利,提高产品检测效率

上海芯哲取得一种 X-RAY 设备的多外形检验治具专利,提高产品检测效率
2024年11月23日 09:32 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 11 月 23 日消息,国家知识产权局信息显示,上海芯哲微电子科技股份有限公司取得一项名为“一种 X-RAY 设备的多外形检验治具”的专利,授权公告号 CN 222028194 U,申请日期为 2024 年 2 月。

专利摘要显示,本实用新型属于半导体封装测试技术领域,具体涉及一种 X‑RAY 设备的多外形检验治具,包括底座、转动连接设于底座上的旋转关节件和与旋转关节件活动连接的支架,所述支架顶端活动连接设有支撑底板,所述支撑底板上安装设有检测产品载具,所述检测产品载具为透明有机玻璃材质,所述检测产品载具上开设有多个产品放置槽,本实用新型结构简单,操作方便,大大提高了产品的检测效率,可对产品进行多角度检测,可满足高端复杂产品的检测要求,无需使用双面胶对产品进行固定,降低了耗材的使用成本。

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