本文源自:金融界
金融界 2024 年 11 月 27 日消息，国家知识产权局信息显示，浙江双元科技股份有限公司申请一项名为“一种基于β射线的探测器、测厚仪及厚度测量方法”的专利，公开号 CN 119022839 A，申请日期为 2024 年 10 月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于β射线的探测器、测厚仪及厚度测量方法，方法包括：空载时，中央光电传感单元和多个外围光电传感单元分别采集第一中央射线强度信号和多个第一外围射线强度信号，计算第一综合射线强度；将被测物置于β 射线源和探测器之间；通过中央光电传感单元和多个外围光电传感单元分别采集β射线穿过被测物之后的第二中央射线强度信号和多个第二外围射线强度信号，根据所述第二中央射线强度信号和多个第二外围射线强度信号计算第二综合射线强度；根据第一综合射线强度和第二综合射线强度计算被测物厚度，该方法能够有效解决传统电离室在线检测过程中被测物高度变化引起的厚度测量值波动的问题。
