上海昊佰智造申请一种对保护膜产品上虚断线切痕深度的检测方法专利,避免因人为判定的不稳定因素导致的误判

上海昊佰智造申请一种对保护膜产品上虚断线切痕深度的检测方法专利,避免因人为判定的不稳定因素导致的误判
2024年11月27日 14:15 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月27日消息,国家知识产权局信息显示,上海昊佰智造精密电子股份有限公司申请一项名为“一种对保护膜产品上虚断线切痕深度的检测方法”的专利,公开号 CN 119022867 A,申请日期为2023年5月。

专利摘要显示,本发明涉及一种对保护膜产品上虚断线切痕深度的检测方法,其中保护膜产品包括通过虚断线连接的第一产品部与第二产品部,以及设于第一产品部上的产品孔;检测方法包括:通过穿过产品孔的连接件,将保护膜产品与拉力检测设备相连接,垂直于虚断线向第二产品部和/或拉力检测设备施加拉力,根据虚断线断裂时的拉力检测数值,或者根据达到设定拉力时的虚断线的断裂情况,判断虚断线切痕深度是否满足要求。与现有技术相比,本发明利用拉力设备实际力值判断虚断线是否切深,避免因人为判定的不稳定因素导致的误判,具有更高的精度。

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