晶相技术申请一种形成缓冲层的方法专利,能够提高镀膜的均匀性

晶相技术申请一种形成缓冲层的方法专利,能够提高镀膜的均匀性
2024年11月30日 09:56 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月30日消息,国家知识产权局信息显示,深圳市晶相技术有限公司申请一项名为“一种形成缓冲层的方法”的专利,公开号CN 119040833 A,申请日期为2019年12月。

专利摘要显示,本发明提出一种形成缓冲层的方法,包括:通过物理气相沉积设备形成所述缓冲层,所述物理气相沉积设备包括:生长腔体;至少一第一载台,设置在所述生长腔体内;多个第二载台,设置在所述第一载台上,所述多个第二载台的转速不同于所述第一载台的转速。本发明提出的方法,能够提高镀膜的均匀性。

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