本文源自:金融界
金融界 2024 年 11 月 30 日消息，国家知识产权局信息显示，深圳硬之城信息技术有限公司申请一项名为“SMT 生产中 AOI 光学定位检测系统及其检测方法”的专利，公开号 CN 119044209 A，申请日期为 2024 年 8 月。
专利摘要显示，本申请涉及检测设备的技术领域，尤其是涉及一种 SMT 生产中 AOI 光学定位检测系统及其检测方法，包括工作台、翻转组件以及输送组件。工作台上设置有检测区，检测区的上方设置有检测架，检测架上安装有检测组件。翻转组件包括移动台、支撑座、翻转框以及旋转电机，移动台滑动连接在工作台上，且移动台经过检测区，支撑座固定连接在移动台上，翻转框转动连接在支撑座上，且翻转框一侧的中部与旋转电机的输出轴固定连接，旋转电机固定连接在支撑座上，翻转框相对的两个侧壁上均滑动连接有两个限位板，两个限位板之间设置有驱动件。输送组件安装在工作台上，输送组件驱动移动台在工作台上移动。本申请具有便于检测组件对翻转之后的 PCB 板进行检测的效果。
