苏州鼎甄智能科技申请基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统专利,提高了微细孔通道缺陷检测的精度与效率

苏州鼎甄智能科技申请基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统专利,提高了微细孔通道缺陷检测的精度与效率
2024年11月30日 16:52 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年11月30日消息,国家知识产权局信息显示,苏州鼎甄智能科技有限公司申请一项名为“基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方案设计方法及系统”的专利,公开号CN 119044219 A,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,本发明公开了

一种基于微细孔通道环

境分析的缺陷检测方案

设计方法及系统,包括以

下步骤:首先获取目标工

件的计算机断层扫描数

据,构建三维模型,并确

定微细孔通道的分布,生

成分布图。然后,基于深

度优先搜索算法对通道

分布图进行分析,确定缺陷检测路径。接着,获取标准缺陷图像

数据和不同环境特征下的环境‑缺陷图像数据,分析图像几何

偏差对检测精度的影响,得到影响数据。最后,根据影响数据制

定不同环境下的缺陷检测策略,并结合检测路径构建完整的缺

陷检测方案。本发明提高了微细孔通道缺陷检测的精度与效

率。

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