本文源自:金融界
金融界2024年11月30日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市鼎泰佳创科技有限公司申请一项名为“老化测试电路及装置”的专利，公开号 CN 119044639 A，申请日期为2024年8月。
专利摘要显示，本发明实施例公开了一种老化测试电路及装置，涉及电力检验设备技术领域，该老化测试电路包括第一配电接口、第二配电接口、第一转换模块以及第二转换模块；所述第一配电接口与所述第一转换模块连接，所述第二配电接口与所述第二转换模块连接；所述第一转换模块与第一产品连接，所述第一产品的第一并网接口与所述第一配电接口连接；所述第二转换模块与第一产品连接，所述第一产品的第二并网接口与所述第二配电接口连接，或，所述第二转换模块与第二产品连接，所述第二产品的第三并网接口与所述第二配电接口连接。兼故小功率产品和大功率产品的老化测试，取得节约采购设备成本的技术效果。
