深圳市优讯佳电子科技有限公司申请一种固态硬盘测试平台专利,便于提高硬盘件封装前整体开卡测试工艺的效率

深圳市优讯佳电子科技有限公司申请一种固态硬盘测试平台专利,便于提高硬盘件封装前整体开卡测试工艺的效率
2024年12月02日 13:55 金融界网站

本文源自:金融界

金融界 2024 年 12 月 2 日消息,国家知识产权局信息显示,深圳市优讯佳电子科技有限公司申请一项名为“一种固态硬盘测试平台”的专利,公开号 CN 119049536 A,申请日期为 2024 年 11 月。

专利摘要显示,本发明公开了一种固态硬盘测试平台,属于固态硬盘检测技术领域,包括开卡箱和检测平台,开卡箱内设置有多个待检测的硬盘件,开卡箱左右内侧壁分别连接有用于对硬盘件进行高低温测试的热收纳槽板和冷收纳槽板,开卡箱内侧壁通过转换轴连接有开卡辊。本发明通过测平腔板和测平伸缩柱的设置,可以利用测平伸缩柱对应的压力传感器传输出的数值变化情况,对硬盘件的电路板翘曲度进行检测,便于快速将翘曲度不合格的硬盘件筛出进行返工操作,同时限位卡接气囊座和终开卡座的设置,可以对硬盘件进行交替的老化测试,避免在进行老化测试时,其他测试步骤的停滞,便于提高硬盘件封装前整体开卡测试工艺的效率。

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