安徽长飞先进半导体申请半导体器件制备方法专利,可避免工艺过程中导电层残留

安徽长飞先进半导体申请半导体器件制备方法专利,可避免工艺过程中导电层残留
2024年12月02日 14:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年12月2日消息,国家知识产权局信息显示,安徽长飞先进半导体股份有限公司申请一项名为“半导体器件的制备方法”的专利,公开号 CN 119049961 A,申请日期为2024年6月。

专利摘要显示,本申请公开了一种半导体器件的制备方法,属于半导体技术领域。制备方法为,首先在衬底上形成栅极,衬底的材料包括碳化硅,衬底还包括位于栅极的相对两侧的源极区;然后形成第一介质层和第二介质层,第一介质层和第二介质层依次覆盖栅极,且暴露源极区;接着形成导电层,导电层位于源极区及第二介质层上;最后去除第二介质层,及导电层的位于第二介质层上的部分。本申请的技术方案可通过去除第二介质层的同时,去除位于第二介质层上的导电层,去除效果良好,可避免工艺过程中导电层在栅极 第一介质层上的残留,提高器件的良品率和可靠性。

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