中环领先申请一种外延片及其清洗方法专利,提高外延片洁净度从而提高器件产品良率

中环领先申请一种外延片及其清洗方法专利,提高外延片洁净度从而提高器件产品良率
2024年12月02日 14:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年12月2日消息,国家知识产权局信息显示,中环领先半导体科技股份有限公司申请一项名为“一种外延片及其清洗方法”的专利,公开号CN 119049960 A,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,本申请公开了一种外延片及其清洗方法,涉及半导体制造技术领域。一种外延片的清洗方法,包括:对外延片上的污染物进行第一次氧化处理,以使部分污染物形成第一氧化膜;清洗外延片,以去除至少部分第一氧化膜;检测清洗后的外延片,获取外延片上残留的污染物的含量;若污染物的含量小于或等于预设值,则完成对外延片的清洗。本申请提供的外延片的清洗方法,可以有效去除外延片表面的各种污染物,提高外延片的洁净度,从而提高器件的产品良率。

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