晶芯成申请半导体结构专利,增加栅极控制能力同时有效减小漏电流

晶芯成申请半导体结构专利,增加栅极控制能力同时有效减小漏电流
2024年12月02日 14:55 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年12月2日消息,国家知识产权局信息显示,晶芯成(北京)科技有限公司申请一项名为“半导体结构”的专利,公开号CN 119050131 A ,申请日期为2024年10月。

专利摘要显示,本申请公开 了一种半导体结构,包括:衬底;U型通道,形成在所述衬底上,具有两个平行通道和位于平行通道一端、连接所述两个平行通道的连接通道;源极和漏极,分别位于所述U型通道的开口侧的两端部;以及栅极,位于所述U型通道上方并横跨所述U型通道的两个平行通道。通过在衬底上形成U型通道,栅极横跨U 型通道的两个平行通道可以实现同时二次控制通道,这种二次控制增加了栅极控制能力,同时也能有效减小漏电流。

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