本文源自:金融界
金融界2024年12月4日消息，国家知识产权局信息显示，赛迪工业和信息化研究院集团（苏州）有限公司申请一项名为“种芯片测试方法系统及装置”的专利，公开号 CN 119064763 A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本发明公开了一种芯片测试方法、系统及装置，属于芯片测试技术领域。包括以下步骤：设定测试项、测试子项以及测试条件，制定测试计划；筛选使用相同测试条件的测试子项；合并所筛选的使用相同测试条件的测试子项；测试子项合并后执行测试。本发明较于现有技术，优点在于：通过对测试程序流程中测试项进行优化即可节省芯片的测试时间，对于同一类型或者使用同一测试条件的不同类型的测试项越多，则节省的测试时间就越多，有效降低了芯片的测试时间成本，提高了产能。
