无锡明祥电子取得晶圆键合电性能测试治具专利,使键合后的晶圆位置得到调节方便后续检测

无锡明祥电子取得晶圆键合电性能测试治具专利,使键合后的晶圆位置得到调节方便后续检测
2024年12月07日 18:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年12月7日消息,国家知识产权局信息显示,无锡明祥电子有限公司取得一项名为“一种晶圆键合电性能测试治具”的专利,授权公告号CN 222106604 U,申请日期为2023年12月。

专利摘要显示,本实用新型公开了一种晶圆键合电性能测试治具,包括测试治具本体,所述测试治具本体的上表面固定连接有底座,底座的顶部滑动连接有放置板,放置板的两侧外壁均滑动连接有限位架,限位架之间固定连接有两个连接架,所述放置板的内部开设有避位槽,避位槽内滑动连接有U型架,且U型架穿过连接架,所述U型架的两端均固定连接有固定块。本实用新型不仅能够使键合后的晶圆的位置得到调节,方便后续测试治具本体对其进行检测,提高了装置的定位效果,同时能够通过楔型块与转把的配合使用,使放置板的位置得到固定,提高了装置的固定效果,还能够通过辅助固定机构进一步使放置板的位置更加的稳定。

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